جميع المنتجات
-
كاشف الخلل بالموجات فوق الصوتية
-
مقياس سمك بالموجات فوق الصوتية
-
مقياس سماكة الطلاء
-
اختبار صلابة المحمولة
-
كاشف عيوب الأشعة السينية
-
أجهزة الزحف في أنابيب الأشعة السينية
-
كاشف العطلات
-
اختبار الجسيمات المغناطيسية
-
معدات اختبار التيار إيدي
-
اختبار الاختراق
-
مقياس الطول على الشاطئ
-
اختبار صلابة برينيل
-
اختبار صلابة روكويل
-
اختبار صلابة مايكرو فيكرز
-
اختبار صلابة المواد
-
مقياس الاهتزاز
-
اختبار خشونة السطح
-
العرض الشخصي
-
مقاييس اللمعان
-
مطرقة اختبار الخرسانة
-
مقياس الحرارة بالأشعة تحت الحمراء بالليزر
-
بوبAstm E114-15 بوصة نوع 1018 معايرة اختبار كتلة الكربون الصلب ميني Iiw 2 -
وليامAstm E114-15 بوصة نوع 1018 معايرة اختبار كتلة الكربون الصلب ميني Iiw 2
-
تومAstm E114-15 بوصة نوع 1018 معايرة اختبار كتلة الكربون الصلب ميني Iiw 2
-
ليوAstm E114-15 بوصة نوع 1018 معايرة اختبار كتلة الكربون الصلب ميني Iiw 2
الكلمات الدالة [ optical crystal semiconductor x ray instrument ] تطابق 1 المنتجات.
VIDEO
Sapphire Piezoelectric Crystal Optical Crystal Semiconductor X Ray Crystal Orientation Indicator Instrument
| مدخل الطاقة: | مرحلة واحدة AC220V، 50HZ، 0.5KW |
|---|---|
| العلامة التجارية: | هواتيك |
| أنبوب الأشعة السينية: | هدف نحاسي مع تأريض الأنود وتبريد الهواء القسري |
1